Главная > Физика > Основы анализа поверхности и тонких пленок
<< Предыдущий параграф
Следующий параграф >>
<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Макеты страниц

Задачи

10.1. Сравните энергии излучения -линии, приведевные на рис. 10.4, со значениями, предсказываемыми теорией Бора для элементов с Z = 30, 40, 50 и 60. Дает ли теория Бора приемлемую оценку (с точностью 10%)?

10.2. Рассмотрите рентгеновское излучение, испускаемое образцом , при облучении электронами с энергией 15 кэВ. Составьте список соответствующих энергий связи для лнннй . Какое требуется энергетическое разрешение для разделения сигналов излечения

10.3. Энергетическая ширина состояния атома кальция с вакансией в К-оболочке примерно равна 1 эВ. Оцените отношение вероятностей излучательных и неизлучательных переходов.

10.4. Рассчитайте сечение выбивания электрона из -оболочки никеля электронами с энергией и протонами с энергией 6,5 МэВ. Сравните скорость протона с воровской скоростью электрона в -оболочке никеля.

10.5. У вас есть тонкие пленки , состав которых должен быть определен для конструирования инфракрасных детекторов. Вы хотите определить отношение и подозреваете, что образец может содержать 1% атомного состава медн в качестве прнмеси. Вы устанавливаете пленку толщиной 1000 А в электронный микроскоп (энергия электронов , который имеет спектрометр с дисперсией по энергии для измерения с энергетическим разрешением 200 эВ.

а. При заданном составе для оцените отношение рентгеновских интенсивностей по отношению сечений и выходов флюоресценции (приложение 9).

б. Ожидаете вы перекрывание рентгеновских линий от и ?

в. Оцените по рис. 8.6 коэффициент массового поглощения рентгеновского излучения от (возьмите значения для ). Будет поглощение оказывать основное влияние на отношение интенсивностей?

г. Оцените отношение интенсивностей -линий при меди. Будет ли оказывать влияние перекрывание поглощение?

10.6. Сравните сечение резерфордовского рассеяния с сечением возбуждения рентгеновского излучения при облучении протонами с энергией Сравните разрешение по массам и по глубине этнх двух методик.

10.7. Сравните процессы испускания электронов и рентгеновского излучения при падении рентгеновского излучения и электронов с энергией на алюминий.

а. Какова глубина пробега электронов при возбуждении рентгеновского излучения -оболочек и какова глубина поглощения, на которой поток падающего рентгеновского излучения уменьшается в е раз (используйте рис. )?

б. Каково сечение ионизации -оболочки электронами и рентгеновским излучением?

в. Какова глубина выхода фотоэлектронов К-оболочки и глубина поглощения (ослабления в е раз) для рентгеновского излучения

г. Каково отношение выходов фотоэлектронов и возбуждаемых электронами рентгеновских квантов для пленок толщиной 30 и 3000 А?

Литература

1. Bambynek W., Graseman B., Fink R. W. et al., X-ray Fluorescence Yields, Auger and Coster — Kronig Transition Probabilities, Rev. Mod. Phys., 44, 716 (1972).

2. Birks L.S., Electron Probe Microanalysis, R.E. Krieger, New York, 1979.

3. Cahill Т.A., Annu. Rev. Nucl. Part. Sci., 30 (1980).

4. Garcia J.D., Phys. Rev., Al, 1402 (1970).

5. Goldstein J.I., Newbury D.E., Echlin P. et al., Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, Plenum Press, New York, 1981.

6. Johansson S.A.E., Johansson T.B., Nucl. Instrum. Meth., 137, 473 (1976).

7. Ion Beam Handbook for Material Analysis, J.W. Mayer, E. Rimini, eds., Academic Press, New York, 1977.

8. McGervey J., Introduction to Modern Physics, Academic Press, New York, 1971.

9. Read F.H., Electromagnetic Radiation, John Wiley and Sons, New York, 1980.

10. Richtmyer P.K., Kennard E.H., Cooper J.N., Introduction to Modern Physics, McGraw-Hill Book Co., New York, 1969.

11. Schiff L., Quantum Mechanics, McGraw-Hill Book Co., New York, 1968. [Имеется перевод: Шифф JJ.И. Квантовая механика. Изд. 2-е. — М.: ИЛ, 1959.]

12. Material Characterization Using Ion Beams, J.P. Thomas, A.Cachard, eds., Plenum Press, New York, 1978.

13. Williams D.B., Practical Analytical Electron Microscopy in Materials Science, Verlag Chemie International, Weinheim, 1984.

14. Willmott J.C., Atomic Physics, John Wiley and Sons, New York, 1975.

15. Woldseth R., X-ray Energy Spectrometry, Kevex Corp., 1973.

16. Zheng et al., J. Vac. Sci. Technol., Al, 758 (1983).

<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Оглавление