Главная > Физика > Основы анализа поверхности и тонких пленок
<< Предыдущий параграф
Следующий параграф >>
<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Макеты страниц

ПРИЛОЖЕНИЕ 2.

СЕЧЕНИЕ РАССЕЯНИЯ РЕЗЕРФОРДА ДЛЯ АТОМОВ С ЭНЕРГИЕЙ РАЗЛИЧНЫХ ЭЛЕМЕНТАХ

(см. скан)

продолжение (см. скан)

<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Оглавление