Главная > Физика > Основы анализа поверхности и тонких пленок
<< Предыдущий параграф
Следующий параграф >>
<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Макеты страниц

ПРИЛОЖЕНИЕ 10. ФИЗИЧЕСКИЕ ПОСТОЯННЫЕ, ПОЛЕЗНЫЕ КОМБИНАЦИИ И СООТНОШЕНИЯ ЕДИНИЦ

Физические постоянные

Полезные комбинации

Соотношения единиц

Литература

1. Ziegler J.F., Chu W.K., Atomic and Nucl. Data Tables, 13, 481 (1974).

2. Siegbahn K. et at., ESCA, Atomic, Molecular and Solid State Structure Studied by Means of Electron Spectroscopy, Almquist and Wiksells, Uppsala, 1967. [Имеется

перевод: Зигбан К., Нордлинг К. и др. Электронная спектроскопия. — М.: Мир, 1971.]

3. Bearden J.A., Rev. Mod. Phys., 39, 78 (1967).

4. Cullity B.D. Elements of X-ray Diffraction, Addison-Wesley, Reading, MA, 1978.

5. International Tables for X-ray Crystallography, Kynoch Press, Birmingham, England, 1952, v. 3, pp. 46—56, v. 4, pp. 51—66.

6. Metals Handbook, American Society for Metals, Cleveland, 1948.

7. Chu W.K., Mayer J. W., Nicolet M. A., Backscattering Spectroscopy, Academic Press, New York, 1987.

8. Woldseth R., X-ray Energy Spectrometry, Kevex Corporation, Burlingame, CA, 1973.

МЕТОДЫ АНАЛИЗА ПОВЕРХНОСТИ

(см. скан)

(см. скан)

<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Оглавление