Главная > Физика > Основы анализа поверхности и тонких пленок
<< Предыдущий параграф
Следующий параграф >>
<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Макеты страниц

6.5. Сечение ударной электронной ионизации

Можно оценить сечение ударной электронной ионизации по формуле (6.10), положив Гмин

где — энергия связи орбитального электрона. При энергиях налетающих частиц меньше , т. е. при сечеиие ионизации должно быть равным нулю. Действительный вид сечения как функции U изображен

Рис. 6.6. Зависимость сечения ударной ионизации в твердом теле от приведенной .

Рис. 6.7. Максимальное значение сечения ударной электронной ионизации а (измеренное при как функция энергии связи различных электронных оболочек [8]. 1 — -оболочка; 2 — -оболочка.

на рис. 6.6. Сечение ионизации имеет максимум при значениях приведенной энергии U порядка 3—4. При эВ и сечение равно . Эта величина хорошо согласуется с экспериментальными значениями максимума сечения ударной ионизации (измеренными около , которые показаны на рис. 6.7.

<< Предыдущий параграф Следующий параграф >>
Оглавление